晶體(一般為單晶)中含有數(shù)量巨大、規(guī)則排列、方位相同的原子，X射線在晶體中的衍射實質上是晶體中各原子散射波之間的干涉結果。晶體衍射方向就是X射線射入周期性排列的晶體中的原子、分子，產生散射后次生X射線干涉、疊加相互加強的方向，用布拉格方程可以進行表述。XRD全稱X射線衍射,利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號特征，經過處理得到衍射圖譜。xrd衍射儀可以進行物相的定性和定量分析、晶格參數(shù)的精確測定、晶粒大小、微觀應力分析、單晶定向以及晶體缺陷等方面研究。
每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其他物質成分的存在與否無關，這就是X 射線衍射做相定量分析的基礎。X 射線衍射是晶體的“指紋”，不同的物質具有不同的X 射線衍射特征峰值(點陣類型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的數(shù)目、位置等)，結構參數(shù)不同則X 射線衍射線位置與強度也就各不相同，所以通過比較X 射線衍射線位置與強度可區(qū)分出不同的礦物成分。xrd衍射儀主要采集的是地層中各種礦物的相對含量，并系統(tǒng)采集各種礦物的標準圖譜，包括石英、鉀長石、斜長石、方解石、白云石、黃鐵礦等近30 種礦物成分，通過礦物成分的相對含量就可以確定巖石巖性，為現(xiàn)場巖性定名提供定量化的參考依據(jù)，提高特殊鉆井條件下巖性識別準確度。
